Strona główna

Wzory formularzy


Pobieranie 2.11 Mb.
Strona4/18
Data19.06.2016
Rozmiar2.11 Mb.
1   2   3   4   5   6   7   8   9   ...   18

* wstawić odpowiednią wartość TAK lub NIE.

..............................., ............... 2013 r. .......................................................................

miejscowość, data podpis i pieczątka Wykonawcy

Wzór nr 3c

Znak postępowania: CEZAMAT/ZP01/2013

(pieczęć Wykonawcy)




CEZAMAT PW Sp. z o.o.

ul. Polna 50

00-644 Warszawa

OPIS URZĄDZEŃ APARATURY NAUKOWO – BADAWCZEJ

OFEROWANYCH PRZEZ WYKONAWCĘ

Budowa Laboratorium Centralnego wraz z dostawą elementów wyposażenia, a także dostawą, instalacją i uruchomieniem aparatury naukowo - badawczej w ramach prawa opcji.

Lp.

Nazwa urządzenia

Parametry wymagane

Potwierdzenie posiadania parametru

(TAK* / NIE*)

Oferowana wartość parametru


3.

Urządzenie do trawienia zogniskowaną wiązką jonów (FIB) z podglądem skaningowym mikroskopem elektronowym (SEM)

3.1.

Główne zastosowania.







3.1.1.

Tworzenie preparatów do mikroskopu HR TEM.







3.1.2.

Badanie morfologii (obrazowania) różnego rodzaju obiektów o rozmiarach nanometrycznych wykorzystując wiązkę elektronową i jonową,







3.1.3.

Tworzenie struktur, wzorów litograficznych oraz kontaktów w nano i mikro-skali przy użyciu wiązki elektronowej i jonowej,







3.1.4.

Osadzanie i trawienie materiałów wiązką elektronową i jonową,







3.1.5.

Badanie próbek o wysokich opornościach (np. ZnO, GaN).







3.2.

Przedmiot zamówienia wraz z wszystkimi opcjami i elementami wyposażenia dodatkowego, w jakie powinno być wyposażone urządzenie. Części składowe urządzenia/systemu (jeśli możliwe jest ich wyodrębnienie). Spis części i materiałów eksploatacyjnych, z którymi ma być dostarczone urządzenie.







3.2.1.

Skaningowy mikroskop elektronowy SEM z działem jonowym FIB wraz z oprogramowaniem,







3.2.2.

System podawania gazów (ang. gas injection system - GIS),







3.2.3.

Manipulator do wyjmowania próbek do mikroskopu transmisyjnego (lamel),







3.2.4.

Miernik monitorujący prąd wiązki,







3.2.5.

System zasłaniania wiązki elektronowej (ang. beam blanker),







3.2.6.

System do kompensacji jonów (neutralizacja ładunku),







3.2.7.

System do czyszczenia komory mikroskopu (ang. plasma cleaner),







3.2.8.

Śluza załadowcza,







3.2.9.

Uchwyty próbek: standardowy (wielopinowy oraz jednopinowy) oraz do płytek o rozmiarach 51mm i 100mm i inne wraz z narzędziami,







3.2.10.

Panele sterujące, manipulator,







3.2.11.

System bezolejowych pomp próżniowych,







3.2.12.

Oprogramowanie do automatycznej obsługi działa jonowego FIB,







3.2.13.

Oprogramowanie do automatycznej preparatyki próbek do transmisyjnego mikroskopu elektronowego,







3.2.14.

Kable elektryczne, światłowodowe i inne przewody,







3.2.15.

Zasilacz awaryjny UPS,







3.2.16.

System do kompensacji pola magnetycznego,







3.2.17.

Zamknięty układ chłodzenia wodnego (ang. chiller) - przewody i osprzęt - reduktory, filtry, zawory, itp.,







3.2.18.

2 stoły, 2 krzesła, szafa.







3.3.

Minimalne akceptowane parametry techniczne (zarówno samego urządzenia, jaki elementów wyposażenie dodatkowego), jakie powinno spełniać zamawiane urządzenie.







3.3.1.

Skaningowy mikroskop elektronowy SEM z działem jonowym FIB wraz z oprogramowaniem:







3.3.1.1.

Urządzenie musi być wyposażone w działo elektronowe z termiczną emisją polową FE (katoda Schottky – żywotność katody minimum 1 rok gwarantowany) i działo jonowe ze źródłem jonów galu Ga+ o dużej trwałości (minimum 1 rok gwarantowany).







3.3.1.2.

Kolumna działa elektronowego i jonowego: muszą być pompowane pompami jonowymi.







3.3.1.3.

Napięcie przyspieszające działa elektronowego musi być regulowane cyfrowo - płynnie co najmniej w zakresie od ≤ 100 V do ≥ 30 kV oraz musi istnieć możliwość pracy w całym zakresie napięć.







3.3.1.4.

Napięcie przyspieszające działa jonowego musi być regulowane cyfrowo - płynnie co najmniej w zakresie od ≤ 1 kV do ≥ 30 kV oraz musi istnieć możliwość pracy w całym zakresie napięć.







3.3.1.5.

Zdolność rozdzielcza mikroskopu SEM dla obrazów SE nie może być gorsza niż:







3.3.1.5.1.

- 1 nm przy napięciu przyspieszającym 15 kV dla optymalnej odległości roboczej (WD), wyznaczona na złocie koloidalnym na węglu,







3.3.1.5.2.

- 2 nm przy napięciu przyspieszającym 1kV dla optymalnej odległości roboczej (WD), wyznaczona na złocie koloidalnym na węglu,







3.3.1.6.

Zdolność rozdzielcza mikroskopu SEM dla obrazów STEM nie może być gorsza niż 0.8 nm przy napięciu przyspieszającym 30 kV dla optymalnej odległości roboczej (WD).







3.3.1.7.

Zdolność rozdzielcza wiązki jonów FIB nie może być gorsza niż 2,5nm przy napięciu przyspieszającym 30 kV i prądzie wiązki jonowej 1pA, wyznaczona metodą krawędziową na próbce grafitowej.







3.3.1.8.

Regulacja wartości prądu wiązki elektronowej na próbce (ang. probe current) co najmniej w zakresie od ≤ 5 pA do ≥ 20 nA. Wymagana stabilność prądu wiązki elektronowej nie gorsza niż 0,2%/godz.







3.3.1.9.

Minimalny wymagany prąd wiązki jonowej ≤ 1 pA, a maksymalny ≥ 50 nA. Prąd wiązki jonowej musi być mierzony cyfrowo.







3.3.1.10.

Kolumna FIB musi posiadać:

  1. co najmniej dwie elektrostatyczne soczewki w układzie optyki jonowej,

  2. stygmator,

  3. wbudowany elektrostatyczny system zasłaniania wiązki elektronowej (ang. beam blanker),

  4. klatkę Faradaya wewnątrz kolumny w celu pomiaru natężenia wiązki,

  5. dyferencyjny dwustopniowy system pomp jonowych,

  6. automatyczną zmotoryzowaną regulację apertur FIB,

  7. korekcję trajektorii wiązki jonowej, zapewniającą możliwość trawienia struktur nanometrycznych oraz bardzo precyzyjnej depozycji materiału z wykorzystaniem układów GIS.







3.3.1.11.

Wymagana bezstopniowa zmiana wielkości powiększenia w zakresie co najmniej od ≤ 300 x do ≥ 500 000 x (dla próbki umieszczonej w eucentrycznej odległości roboczej, na ekranie monitora o przekątnej 24”). Mikroskop musi umożliwiać zmienną regulację powiększenia: płynnie w całym zakresie.







3.3.1.12.

Mikroskop musi być wyposażony w co najmniej następujące detektory obrazowe:

  1. Detektor elektronów wtórnych Everhart-Thornley, zamontowany wewnątrz komory mikroskopu z optycznie sprzężonym fotopowielaczem, z możliwością regulacji napięcia kolektora detektora SE.

  2. Wewnątrz - soczewkowy (ang. In-lens) detektor elektronów wtórnych,

  3. Wewnątrz - soczewkowy (ang. In-lens) detektor elektronów wstecznie rozproszonych,

  4. Diodowy detektor BSE elektronów wstecznie rozproszonych,

  5. Detektor elektronów przechodzących (STEM) z podziałem na obszar jasnego pola (BF), ciemnego pola (DF),

  6. Detektor jonów wtórnych,

  7. Detektor pomiaru prądu wiązki,

  8. Dwie kamery: jedna IR CCD zamontowana wewnątrz mikroskopu do podglądu wnętrza komory próbki dająca przestrzenny podgląd całej komory, druga kamera na drzwiach (obraz z kamer wyświetlany na monitorze LCD).







3.3.1.13.

Musi istnieć możliwość wykonywania zdjęć SEM w wysokiej rozdzielczości próbek zbudowanych z materiałów dia-, para-, oraz ferromagnetycznych w dowolnej proporcji, przy małej odległości roboczej i niskim napięciu przyspieszającym. 







3.3.1.14.

Musi istnieć możliwość dowolnego wybierania sygnału z poszczególnych detektorów (SE, In-lens SE , BSE itp.) i wyświetlania na ekranie obrazu zmieszanego z co najmniej dwóch sygnałów w dowolnym stosunku, bez konieczności zmiany odległości roboczej.







3.3.1.15.

Musi istnieć możliwość dzielenia ekranu na co najmniej 2 części lub pracy z pojedynczym obrazem na całym ekranie.







3.3.1.16.

Oprogramowanie do obsługi mikroskopu musi miedzy innymi:

  1. zapewniać kontrolę parametrów katody,

  2. zapewniać kontrolę próżni w komorze,

  3. zawierać makro generator do automatyzacji systemu.







3.3.1.17.

Obróbka obrazu: manualne ustawianie wszystkich parametrów, a ponadto:

  1. automatyczna kontrola kontrastu i jasności,

  2. automatyczne centrowanie działa,

  3. automatyczne ustawianie ostrości,

  4. automatyczne ogniskowanie,

  5. automatyczna korekcja astygmatyzmu,

  6. możliwość rotacji wykonanego zdjęcia,

  7. zapamiętywanie warunków pracy,

  8. zapamiętywanie wszystkich parametrów zdjęcia.







3.3.1.18.

Musi istnieć możliwość nagrywania plików w formacie AVI.







3.3.1.19.

Musi istnieć możliwość zapisu obrazów mikroskopowych z rozdzielczością cyfrowa nie mniejszą niż 3072 pikseli x 2304 pikseli i w skali szarości nie mniej niż 16 bitów.







3.3.1.20.

Obróbka cyfrowa zdjęć: uśrednianie, histogram, korekcja gamma, odwrócenie kontrastu, skala szarości.







3.3.1.21.

System mikroskopu elektronowego musi zawierać zintegrowany program do interaktywnych pomiarów odległości, pól powierzchni i kątów bezpośrednio na ekranie monitora z automatycznym zapisem rezultatów pomiaru.







3.3.1.22.

Wymagana cyfrowa rejestracja obrazów co najmniej w standardach: TIFF, BMP lub JPEG.







3.3.1.23.

System musi posiadać co najmniej następujące tryby skanowania: skan po całym kadrze, skan w oknie o dowolnie zmienianych rozmiarach, skany liniowe oraz tryb punktowy (wiązka stacjonarna).







3.3.1.24.

System mikroskopu musi umożliwiać pracę w modach obrazowania: standardowo używając wiązkę elektronową (układ pracuje jako SEM), wiązką jonową (FIB) oraz musi istnieć możliwość uzyskiwania obrazów z mikroskopu (SEM) podczas jednoczesnej pracy działem jonowym (FIB).







3.3.1.25.

Mikroskop powinien posiadać funkcję automatycznej korekcji dryftu.







3.3.1.26.

Mikroskop powinien być wyposażony w stolik próbki o zmotoryzowanych przesuwach w osiach X, Y, Z, T i R. Zakresy przesuwów: X: od 0 do min. 100 mm, Y: od 0 do min. 100 mm, Z: od 0 do min. 10 mm; eucentryczny obrót wokół osi w zakresie od 0 do 360° dla wszystkich położeń X, Y; pochył w zakresie co najmniej od -3° do 60°.







3.3.1.27.

System musi posiadać cyfrowy generator wzorów skanowania SEM/FIB (ang. digital pattern generator) wraz z oprogramowaniem (ang. patterning).







3.3.1.28.

Mikroskop powinien posiadać bezpieczne połączenie z sieciami WAN lub LAN.







3.3.1.29.

Musi być dostarczone oprogramowanie do diagnostyki mikroskopu on-line.







3.3.1.30.

Komora mikroskopu musi posiadać dodatkowe porty umożliwiające w przyszłości podłączenie:

  1. systemu EDS,

  2. minimum 2 manipulatorów.







3.3.2.

System podawania gazów (ang. Gas Injection System - GIS):







3.3.2.1.

Mikroskop powinien być wyposażony w następujące układy służące do precyzyjnego podawania gazów roboczych (GIS) za pomocą wiązki elektronowej i jonowej:

  1. układ do precyzyjnego podawania platyny (Pt),

  2. układ do precyzyjnego podawania wolframu (W),

  3. układ do precyzyjnego podawania H2O, przyspieszającej proces trawienia jonowego,

  4. układ do precyzyjnego podawania węgla (C),

  5. układ do precyzyjnego podawania gazu XeF2, przyspieszającego proces trawienia jonowego.







3.3.2.2.

Poszczególne układy punktowego podawania gazu powinny być sterowane niezależnie, z poziomu głównego interfejsu użytkownika mikroskopu. Pojedynczy układ powinien służyć do precyzyjnego podawania jednego rodzaju gazu. Każda linia wstrzykiwania gazu musi być zakończona dyszą. Każdy zbiornik gazu, sam prekursor, jak i dysza muszą być ogrzewane.







3.3.2.3.

Cały układ GIS (służący do depozycji, selektywnego trawienia) musi być wyposażony we własny automatyczny mikrostolik do precyzyjnego wstrzykiwania gazów, poruszany cyfrowo w osiach X.Y,Z, kontrolowany przez komputer.







3.3.2.4.

Wymagane jest, aby podczas pracy systemu GIS utrzymywał się stabilny strumień dostarczanego gazu. Podczas wykonywania depozycji i trawienia musi istnieć możliwość oglądania postępu wykonywanych prac przez detektory, które będą zainstalowane w mikroskopie.







3.3.2.5.

Zainstalowane Urządzenie powinno być całkowicie gotowe do podawania gazów (dostarczone wraz z odpowiednimi prekursorami, zaworami, wszystkimi obecnymi licencjami, płytami CD z oprogramowaniem i sterownikami, przewodami oraz liniami doprowadzającymi gazy).







3.3.3.

Manipulator do wyjmowania próbek do mikroskopu transmisyjnego (lamel):







3.3.3.1.

Mikroskop musi być wyposażony w mikromanipulator pozwalający na preparatykę próbek TEM (przenoszenie cienkich folii na dedykowane siatki TEM) – technika „in-situ lift-out”. Mikromanipulator musi mieć możliwość obrotu oraz ruchu w kierunku X, Y i Z.







3.3.4.

Miernik monitorujący prąd wiązki:







3.3.4.1.

System ma zawierać cyfrowy miernik prądu próbki (pikoamperomierz) mierzący w zakresach od ≤ 0.1 pA do ≥ 10µA, minimum 6 zakresów pomiarowych i minimum 5 cyfr znaczących.







3.3.5.

System zasłaniania wiązki elektronowej (ang. beam blanker):







3.3.5.1.

Kolumna działa elektronowego musi być wyposażona w system zasłaniania wiązki elektronowej (ang. beam blanker).







3.3.6.

System do kompensacji jonów (neutralizacja ładunku):







3.3.6.1.

Mikroskop musi być wyposażony w układ neutralizacji ładunku (jonów), gromadzącego się w próbkach nieprzewodzących podczas trawienia z wykorzystaniem kolumny FIB.







3.3.7.

System do czyszczenia komory mikroskopu (ang. plasma cleaner):







3.3.7.1.

Mikroskop powinien być wyposażony w zintegrowane z komorą SEM urządzenie do czyszczenia plazmowego (ang. plasma cleaner) pozwalające na oczyszczenie powierzchni preparatu niskoenergetyczną plazmą o mocy poniżej 20W, bez konieczności wyjmowania próbki z mikroskopu.







3.3.8.

Śluza załadowcza:







3.3.8.1.

Mikroskop musi być wyposażony w śluzę do szybkiego wprowadzania próbek do mikroskopu. Śluza musi być podłączona do mikroskopu za pomocą zaworu i musi być podłączona do bezolejowego systemu pompowania. Śluza musi być automatycznie zaazotowywana za pomocą czystego azotu z linii azotowej, używanego również do zaazotowywania komory mikroskopu.







3.3.9.

Uchwyty próbek: standardowy (wielopinowy oraz jednopinowy) oraz do płytek o rozmiarach 51mm i 100mm i inne wraz z narzędziami:







3.3.9.1.

Musi być dostarczony:

  1. podstawowy zestaw narzędzi do preparatyki oraz do obsługi - 4 pęsety, 2 taśmy przewodzące, naklejki węglowe 200 sztuk, klej na bazie srebra 2 sztuki,

  2. stoliki umożliwiające zamontowanie próbek na uchwytach – wielopinowy (uchwyt umożliwiający zamontowanie na nim co najmniej 6 małych stolików) sztuk 1, jednopinowy (uchwyt umożliwiający zamontowanie na nim próbki o rozmiarach co najmniej 20 x 20 mm ) sztuk 1,

  3. standardowy zestaw małych stolików (należy dostarczyć 100 mniejszych stolików),

  4. stoliki umożliwiające zamontowanie płytek o rozmiarach 51mm i 100mm,

  5. imadło do trzymania próbek nieregularnych,

  6. stolik używany podczas preparatyki TEM,

  7. stolik umożliwiający oglądanie próbek detektorem STEM,

  8. stolik umożliwiający tworzenie preparatyki TEM z możliwością oglądania próbki detektorem STEM,

  9. stolik pochylony pod kątem 45°,

  10. stolik umożliwiający przenoszenie próbek przez śluzę.







3.3.10.

Panele sterujące, manipulator:







3.3.10.1.

Mikroskop musi zawierać panel kontrolny składający się z:

  1. klawiatury, przycisków i systemu pokręteł pozwalających na cyfrową regulacją podstawowych, często używanych parametrów i funkcji takich jak: jasność, kontrast, powiększenie, fokus, stygmator,

  2. manipulatora do kontroli nad stolikiem.







3.3.11.

System bezolejowych pomp próżniowych







3.3.11.1.

Układ próżniowy musi być sterowany w sposób całkowicie automatyczny i na bieżąco kontrolowany na wypadek jakiejkolwiek niesprawności bądź awarii Urządzenia. Wymagany układ całkowicie bezolejowy, bazujący na pompach jonowych, pompie turbomolekularnej i pompie próżni wstępnej typu „scroll”. Uzyskiwany przez system pompowania poziom wysokiej próżni w komorze próbki musi być lepszy niż 2,5x10-6mbar.







3.3.12.

Oprogramowanie do automatycznej obsługi działa jonowego FIB







3.3.12.1.

Musi być dostarczone oprogramowanie do automatycznej obsługi działa jonowego FIB.







3.3.13.

Oprogramowanie do automatycznej preparatyki próbek do transmisyjnego mikroskopu elektronowego







3.3.13.1.

Wymagane oprogramowanie do zautomatyzowanej preparatyki próbek TEM, pozwalające na automatyczne, sekwencyjne trawienie wielu preparatów TEM bez udziału operatora.







3.3.14.

Kable elektryczne, światłowodowe i inne przewody







3.3.14.1.

Mikroskop musi zawierać zestaw wszystkich potrzebnych przewodów do połączeń, o długości wystarczającej do podłączenia mikroskopu, systemu chłodzenia i UPS.







3.3.15.

Zasilacz awaryjny UPS







3.3.15.1.

Musi być dostarczony system UPS zabezpieczający mikroskop na wypadek awarii systemu zasilania, wyposażony w odpowiednie filtry, pozwalający na podtrzymanie zasilania mikroskopu do 10 min.







3.3.16.

System do kompensacji pól elektromagnetycznych







3.3.16.1.

Musi być dostarczony i zainstalowany system do kompensacji pól elektromagnetycznych, który zapewni prawidłowe działanie Urządzenia (do parametrów wymaganych przez Producenta Urządzenia).







3.3.17.

Zamknięty układ chłodzenia wodnego (ang. chiller) - przewody i osprzęt - reduktory, filtry, zawory, itp.







3.3.17.1.

System mikroskopu musi być wyposażony w układ chłodzenia wodą, chłodzony powietrzem w obiegu zamkniętym.







3.3.17.2.

Układ chłodzenia wodnego, 230V/50Hz do chłodzenia mikroskopu:

  1. musi zapewniać chłodzenie od 10°C do 40°C ze stabilnością 0.1°C,

  2. musi być zdalnie kontrolowany przez mikroskop.







3.3.17.3.

Chłodzenie wodne musi swoją wydajnością zapewnić stabilną pracę całego systemu mikroskopu wliczając działo elektronowe i jonowe.







3.3.18.

2 stoły, 2 krzesła, szafa







3.3.18.1.

Muszą być dostarczone minimum dwa stoły oraz dwa krzesła do pomieszczenia, w którym zainstalowany będzie mikroskop.







3.3.18.2.

Musi być dostarczona szafka do przechowywania części do Urządzenia i instrukcji obsługi.







3.3.19.

Inne wymagania







3.3.19.1.

Obsługa wszystkich elementów Urządzenia/systemów musi być możliwa przy wykorzystaniu języka polskiego lub angielskiego (dotyczy to w szczególności opisu elementów sterujących na konsolach, klawiaturze, urządzeniach itd.).







3.3.19.2.

Wykonawca zapewnia w ramach wykonania Umowy wszystkie niezbędne do utrzymania w ruchu Urządzenia materiały eksploatacyjne w okresie gwarancji bez dodatkowego wynagrodzenia (smary, oleje, uszczelki, filtry wody, czynniki chłodzące, etc).







3.3.19.3.

Musi być dostarczone urządzenie cyfrowe do monitorowania i rejestracji parametrów środowiskowych : temperatura, wilgotność.







3.3.19.4.

Infrastruktura informatyczna pomieszczenia Urządzenia (kable, routery, przejściówki, oprogramowanie itp.), wymagana do eksploatacji Urządzenia jako systemu wykorzystującego co najmniej 2 komputery.







3.3.19.5.

Komputer(y) sterujący(e) z wyposażeniem zapewniający(e) ergonomiczną, płynną i bezproblemową pracę Urządzenia przy korzystaniu z dedykowanego oprogramowania.







3.3.19.6.

Oprogramowanie powinno pozwalać na definiowanie i przechowywanie w dedykowanej bazie danych procedur i parametrów wielu procedur (w wielu rożnych grupach dostępnych jedynie dla posiadających odpowiednie uprawnienia użytkowników), a także powinno posiadać wielopoziomowy mechanizm nadawania praw dostępu i uprawnień dla użytkowników







3.3.19.7.

Jednostka sterująca (minimum 2 komputery) z systemem wyświetlania obrazu na minimum dwóch płaskich kolorowych monitorach LCD minimum 24” z właściwym oprogramowaniem, wyposażona w system tworzenia raportów, obróbki i tworzenia prezentacji danych wraz z akcesoriami niezbędnymi do pracy.







3.3.19.8.

Wykonawca dostarczy bezterminową licencje na dostarczone oprogramowanie. Dostarczy także komplet dysków instalacyjnych.







3.3.19.9.

Urządzenie musi być dostarczone w stanie gotowym do pracy bez konieczności kupna dodatkowych przystawek, licencji, urządzeń niezbędnych do jego uruchomienia i prawidłowego funkcjonowania.







3.4.

Nietypowe parametry urządzenia i/lub jego wyposażenia istotne ze względu na sposób użytkowania, czy instalację. Wymagania co do wymiarów i wagi urządzenia.







3.4.1.

Wymiary poszczególnych elementów Urządzenia muszą umożliwiać ich transport wewnątrz budynku do miejsca instalacji Urządzenia przez drzwi o wymiarach otworu: szerokość 180cm i wysokość 205cm, chyba że, Wykonawca uzyska pisemną akceptację Zamawiającego na niespełnienie tego warunku. W przypadku, gdy Wykonawca zaoferuje urządzenia o parametrach wymagających przy dostawie i instalacji zapewnienia szerokości otworu drzwi większej niż podana w dokumentacji projektowej, Zamawiający dopuszcza wyrażenie zgody na zmianę parametru szerokości drzwi. Zmiana wymagać będzie uzyskania pisemnej zgody projektanta na zmianę dokumentacji projektowej w tym zakresie. Wykonawca winien zwrócić się z odpowiednim wnioskiem do Zamawiającego w terminie umożliwiającym wprowadzenie odpowiednich zmian do dokumentacji projektowej, w tym gwarantującym wykonywanie robót budowlanych uwzględniających zmianę zgodnie Harmonogramem rzeczowo – finansowym.







3.4.2.

Maksymalna wysokość zmontowanego Urządzenia ze względu na wysokość pomieszczenia – 390 cm.







3.4.3.

Wymiary zmontowanego Urządzenia wraz z jego strefą serwisową muszą mieścić się wewnątrz wyznaczonych linii ograniczających powierzchnię posadowienia Urządzenia zaznaczonych na planie rozmieszczenia urządzeń, chyba że Wykonawca uzyska pisemną akceptację Zamawiającego na niespełnienie tego warunku.







3.4.4.

Maksymalna waga Urządzenia musi uwzględniać przyjęte maksymalne obciążenie użytkowe wynoszące 5 kN/m 2..







3.5.

Zdefiniowanie i opis wymaganych technologii, z jakimi ma być dostarczone urządzenie.







3.5.1.

Musi być dostarczona technologia centrowania Urządzenia, technologia wykonania zdjęć działem elektronowym i jonowym, technologia osadzania wymienionych powyżej materiałów, technologia trawienia i wykonywania preparatów TEM.






1   2   3   4   5   6   7   8   9   ...   18


©snauka.pl 2016
wyślij wiadomość