Strona główna

Wzory formularzy


Pobieranie 2.11 Mb.
Strona6/18
Data19.06.2016
Rozmiar2.11 Mb.
1   2   3   4   5   6   7   8   9   ...   18

Wzór nr 3e

Znak postępowania: CEZAMAT/ZP01/2013

(pieczęć Wykonawcy)



CEZAMAT PW Sp. z o.o.

ul. Polna 50

00-644 Warszawa

OPIS URZĄDZEŃ APARATURY NAUKOWO – BADAWCZEJ

OFEROWANYCH PRZEZ WYKONAWCĘ

Budowa Laboratorium Centralnego wraz z dostawą elementów wyposażenia, a także dostawą, instalacją i uruchomieniem aparatury naukowo - badawczej w ramach prawa opcji.

Lp.

Nazwa urządzenia

Parametry wymagane

Potwierdzenie posiadania parametru

(TAK* / NIE*)

Oferowana wartość parametru


5.

Wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z emisją polową (HR-FE-SEM) wraz systemem do mikroanalizy rentgenowskiej EDS.

5.1.

Główne zastosowania.







5.1.1.

Wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z emisją polową HR-FE-SEM przeznaczony do badanie morfologii (obrazowania) powierzchni próbek wykorzystujący wiązkę elektronową.







5.2.

Przedmiot zamówienia wraz z wszystkimi opcjami i elementami wyposażenia dodatkowego, w jakie powinno być wyposażone urządzenie. Części składowe urządzenia/systemu (jeśli możliwe jest ich wyodrębnienie). Spis części i materiałów eksploatacyjnych, z którymi ma być dostarczone urządzenie.







5.2.1.

Skaningowy mikroskop elektronowy HR-FE-SEM wraz z oprogramowaniem







5.2.2.

System do mikroanalizy rentgenowskiej EDS







5.2.3.

System bezolejowych pomp próżniowych







5.2.4.

Panele sterujące, manipulator







5.2.5.

Śluza załadowcza







5.2.6.

System kompensacji lokalnych pól magnetycznych







5.2.7.

Miernik monitorujący prąd wiązki







5.2.8.

Uchwyty na próbki: standardowy (wielopinowy oraz jednopinowy), na 51mm, 76mm, 100mm i 150mm i inne wraz z narzędziami







5.2.9.

System do czyszczenia komory mikroskopu (ang. plasma cleaner)







5.2.10.

Kable elektryczne, światłowodowe i inne przewody







5.2.11.

Zasilacz awaryjny UPS







5.2.12.

Zamknięty układ chłodzenia wodnego (ang. chiller) - przewody i osprzęt - reduktory, filtry, zawory, etc.







5.2.13.

2 stoły, 2 krzesła, szafa







5.3.

Minimalne akceptowane parametry techniczne (zarówno samego urządzenia, jaki elementów wyposażenie dodatkowego), jakie powinno spełniać zamawiane urządzenie.







5.3.1.

Skaningowy mikroskop elektronowy HR-FE-SEM wraz z oprogramowaniem:







5.3.1.1.

Mikroskop musi być wyposażony w działo elektronowe z termiczną emisją polową FE (katoda Schottky’ego – żywotność katody minimum 1 rok gwarantowany).







5.3.1.2.

Napięcie przyśpieszające przy powierzchni próbki regulowane cyfrowo co najmniej w zakresie od 0,05 - 30 kV.







5.3.1.3.

Zdolność rozdzielcza mikroskopu dla obrazów nie może być gorsza niż:

  1. 1,2 nm przy napięciu przyspieszającym 15 kV przy optymalnej WD,

  2. 2,0 nm przy napięciu przyspieszającym 1 kV przy optymalnej WD.







5.3.1.4.

Regulacja wartości prądu wiązki na próbce (ang. probe current) co najmniej w zakresie od 15 pA do 20 nA. Wymagana stabilność prądu wiązki nie gorsza niż 0,2%/godz.







5.3.1.5.

Niezależna, płynna, cyfrowa regulacja napięcia przyspieszającego i prądu wiązki na próbce.







5.3.1.6.

Mikroskop musi umożliwiać obserwację w zakresie powiększeń od co najwyżej 300 razy do co najmniej 500 000 razy dla próbki.







5.3.1.7.

Automatyczne włączenie i ustalenie warunków pracy emitera przez system obsługujący mikroskop.







5.3.1.8.

Komora musi zapewniać jednoczesną bezkolizyjną pracę wszystkich detektorów zamontowanych w układzie.







5.3.1.9.

Komora mikroskopu musi być wyposażona w precyzyjny stolik dla wszystkich odległości roboczych (WD), zmotoryzowany w 5 osiach (X,Y,Z,R,T) sterowany za pośrednictwem systemu komputerowego.







5.3.1.10.

Stolik próbek z możliwością powrotu do zapamiętanych położeń w całym zakresie ruchu z precyzją lepszą niż 5 µm, kontrolowany przez system mikroskopu, o zakresie ruchu w osiach:

  1. X: nie miej niż 125 mm,

  2. Y: nie miej niż 125 mm,

  3. Z: nie miej niż 10 mm,

  4. Nachylenie stolika: w zakresie: zakres nie mniejszy niż od -1 do +60 stopni,

  5. Obrót w zakresie 0 do 360 stopni.







5.3.1.11.

W komorze mikroskopu muszą być zainstalowane co najmniej jedna kamera IR CCD z podświetlaniem (ang. IR-illumination) do podglądu wnętrza komory próbki umieszczona z góry komory, dająca przestrzenny podgląd całej komory. Obraz z kamery wyświetlany na monitorze LCD.







5.3.1.12.

Mikroskop musi być wyposażony w co najmniej następujące detektory:







5.3.1.12.1.

Wewnątrz soczewkowy detektor elektronów wtórnych SE,







5.3.1.12.2.

Detektor elektronów wtórnych SE Everhart-Thornley,







5.3.1.12.3.

Wewnątrz soczewkowy detektor elektronów wstecznie rozproszonych BSE,







5.3.1.12.4.

Diodowy detektor BSE elektronów wstecznie rozproszonych.







5.3.1.13.

Musi istnieć możliwość wykonywania zdjęć SEM w wysokiej rozdzielczości próbek zbudowanych z materiałów dia-, para-, oraz ferromagnetycznych w dowolnej proporcji, przy małej odległości roboczej i niskim napięciu przyspieszającym. 







5.3.1.14.

Możliwość dowolnego wybierania intensywności/wartości sygnału z poszczególnych detektorów (SE, BSE) i wyświetlania na ekranie obrazu zmieszanego z co najmniej dwóch sygnałów w dowolnym stosunku bez konieczności zmiany odległości roboczej.







5.3.1.15.

Możliwość dzielenia ekranu na co najmniej 2 części z możliwością zapisu i wyświetlania 2 różnych obrazów.







5.3.1.16.

Obróbka obrazu: manualne ustawianie wszystkich parametrów, a ponadto:

  1. automatyczna kontrola kontrastu i/lub jasności,

  2. automatyczne centrowanie działa,

  3. automatyczne ustawianie ostrości,

  4. automatyczne ogniskowanie,

  5. automatyczna korekcja astygmatyzmu,

  6. możliwość rotacji wykonanego zdjęcia,

  7. zapamiętywanie warunków pracy,

  8. zapamiętywanie wszystkich parametrów zdjęcia.







5.3.1.17.

Możliwość zapisania plików w formacie wideo np. AVI.







5.3.1.18.

Możliwość zapisu obrazów mikroskopowych z rozdzielczością cyfrowa nie mniejszą niż 3072 pikseli x 2304 pikseli i w skali szarości nie mniej niż 16 bitów.







5.3.1.19.

Obróbka cyfrowa zdjęć: uśrednianie, histogram, korekcja gamma, odwrócenie kontrastu, skala szarości.







5.3.1.20.

System mikroskopu elektronowego musi zawierać zintegrowany program do interaktywnych pomiarów odległości, pól powierzchni i kątów bezpośrednio na ekranie monitora z automatycznym zapisem rezultatów pomiaru.







5.3.1.21.

Musi istnieć możliwość cyfrowej rejestracji obrazów w co najmniej następujących przyjętych standardach: TIFF, BMP lub JPEG.







5.3.1.22.

System musi posiadać co najmniej następujące tryby skanowania: skan całego kadru, skan w oknie o dowolnie zmienianych rozmiarach, skany liniowe oraz tryb punktowy.







5.3.1.23.

Oprogramowanie do obsługi mikroskopu musi:

  1. zapewniać kontrolę parametrów katody,

  2. zapewniać kontrolę próżni w komorze,

  3. zawierać automatyczną funkcję korekcji dryftu,

  4. zawierać makro generator do automatyzacji systemu,

  5. automatyczne tworzenie obrazów SEM 3D na podstawie wykonanych zdjęć

  6. oraz powinno posiadać wielopoziomowy mechanizm nadawania praw dostępu i uprawnień dla użytkowników.







5.3.1.24.

Wykonawca zainstaluje oprogramowanie do obsługi mikroskopu, dostarczy bezterminową licencję na jego użytkowanie. Dostarczy także komplet dysków instalacyjnych







5.3.2.

System do mikroanalizy rentgenowskiej EDS







5.3.2.1.

Musi umożliwiać wykonywanie jakościowej i ilościowej analizy pierwiastków oraz zbieranie map rozkładu pierwiastków i profili liniowych z powierzchni chropowatych, próbek polerowanych, cienkich warstw, grubych próbek i cząstek.







5.3.2.2.

Musi być w pełni zintegrowany sprzętowo, programowo i być konstrukcyjnie kompatybilny (np. flansza adaptująca) z zakupionym skaningowym mikroskopem elektronowym oraz musi być zainstalowany w układzie (gotowy do pracy).







5.3.2.3.

Musi umożliwiać detekcję pierwiastków o liczbie atomowej Z ≥ 5, od boru do ameryku.







5.3.2.4.

Detektor spektrometru EDS musi być typu SDD, bezazotowy, o aktywnej powierzchni aktywnej detektora co najmniej 60mm2, detektor typu SDD musi być chłodzony podwójnym stolikiem Peltier.







5.3.2.5.

Rozdzielczość energetyczna ≤ 129 eV (specyfikowanej dla linii Mn Kα), przy liczbie zliczeń 100 000 cps.







5.3.2.6.

Wymagana możliwość pracy w całym zakresie napięć przyspieszających, liczba zliczeń na wejściu 700 000 cps lub lepsza, liczba zliczeń na wyjściu 250 000 cps lub lepsza.







5.3.2.7.

Musi umożliwiać wykonywanie analizy ilościowej pierwiastków całkowicie bezwzorcowo oraz z wykorzystaniem wzorców analitycznych.







5.3.2.8.

Musi istnieć możliwość rozszerzonej analizy widm dla zaawansowanych użytkowników oraz musi być dostarczony edytor dla metod ewaluacji zdefiniowanych przez użytkownika.







5.3.2.9.

Musi kontrolować wiązkę elektronową mikroskopu w celu akwizycji obrazów elektronowych i map rtg minimum z dwóch wybranych sygnałów np. SE i BSE, rozdzielczość obrazów elektronowych musi być co najmniej 4096 x 4096 pikseli.







5.3.2.10.

Musi posiadać funkcję analizy faz.







5.3.2.11.

Musi posiadać możliwość otrzymywania ultraszybkich cyfrowych mapowań pierwiastków, ilościowych mapowań pierwiastków oraz map, w których każdy z pikseli zawiera pełną informację jakościową i ilościową.







5.3.2.12.

Musi posiadać możliwość ilościowej analizy pierwiastków w skanie liniowym.







5.3.2.13.

Musi umożliwiać połączenie wyników analizy chemicznej z analizą morfologiczną.







5.3.2.14.

Musi posiadać automatyczną korekcję zniekształceń pochodzących ze skanowania wiązką.







5.3.2.15.

Musi mieć korekcję dryfu.







5.3.2.16.

Musi dysponować możliwością zbierania map rozkładów pierwiastków i profili liniowych od dowolnej ilości pierwiastków jednocześnie, rozdzielczość map rtg musi być formatu co najmniej 1024 x 1024 pikseli, zapewnić poprawną, bezwzorcową analizę oraz mapowanie w warunkach niskiej próżni.







5.3.2.17.

Musi umożliwiać wykonywanie analizy jakościowej w sposób automatyczny lub manualny.







5.3.2.18.

Musi umożliwiać modelowanie tła.







5.3.2.19.

Musi umożliwiać tworzenie histogramów.







5.3.2.20.

Musi umożliwiać akwizycję elektronów i kolorowe obrazowanie.







5.3.2.21.

Musi umożliwiać przeszukiwanie baz danych widm w celu odnalezienia podobnych otrzymanych widm.







5.3.2.22.

Musi umożliwiać zarządzanie danymi i ich archiwizację.







5.3.2.23.

Musi umożliwiać zautomatyzowanie pracy.







5.3.2.24.

Musi umożliwiać tworzenie raportów i ich wydruków.







5.3.2.25.

Musi posiadać możliwość zbierania widm rentgenowskich i analizy pierwiastków: w punkcie wybranych obiektów, automatycznej wielopunktowej wybranych obiektów, z wybranego obszaru zredukowanego, także z części kadru o kształcie zdefiniowanym przez operatora, z całego kadru, wzdłuż dowolnie poprowadzonej linii, w których każdy z pikseli zawiera pełną informację jakościową i ilościową, rozkładu pierwiastków na wybranym obszarze (mapowanie X-ray), pełnego widma rentgenowskiego dla każdego piksela z żądanego obszaru.







5.3.2.26.

Musi być wyposażony w jednostkę sterującą mikroanalizatorem oraz system komputerowy (o parametrach zapewniających prawidłowe funkcjonowanie systemu EDS) sterujący spektrometrem EDS oraz umożliwiający analizę i zapamiętywanie danych oraz powinno umożliwiać definiowanie i przechowywanie w dedykowanej bazie danych procedur i parametrów wielu procedur.







5.3.2.27.

Wraz z systemem komputerowym musi być dostarczony co najmniej 24 calowy monitor LCD.







5.3.2.28.

Musi być dostarczone oprogramowanie do akwizycji i analizy jakościowej składu próbki wraz z licencją off-line.







5.3.2.29.

Musi być dostarczona próbka wzorcowa (Mn) do kalibracji systemu.







5.3.3.

System bezolejowych pomp próżniowych:







5.3.3.1.

Suchy, bezolejowy, automatyczny system pompowania kontrolowany przez komputer i wyświetlający parametry próżni. System musi posiadać dwie pompy jonowe, pompę próżni wstępnej typu „scroll” do uzyskania wstępnej próżni i pompę turbomolekularną do uzyskania ultra-wysokiej próżni w komorze mikroskopu.







5.3.3.2.

Uzyskiwany przez system pompowania poziom wysokiej próżni w komorze próbki lepszy niż 5 x 10-6mbar.







5.3.3.3.

System do automatycznego przepłukiwania czystym azotem komory mikroskopu sterowany przez komputer.







5.3.4.

Panele sterujące, manipulator







5.3.4.1.

System musi zawierać panel kontrolny składający się z:

  1. klawiatury, przycisków i systemu pokręteł pozwalających na cyfrową regulacją podstawowych, często używanych parametrów i funkcji takich jak: jasność, kontrast, powiększenie, ogniskowanie, stygmator,

  2. manipulatora, którego zadaniem jest kontrola stolikiem w 5 osiach.







5.3.5.

Śluza załadowcza:






5.3.5.1.

Do komory mikroskopu musi być podłączona w pełni funkcjonalna śluza załadowcza do szybkiego wprowadzania próbek.







5.3.5.2.

Śluza musi być podłączona do mikroskopu i musi być podłączona do bezolejowego systemu pompowania.







5.3.5.3.

Śluza musi być automatycznie przepłukiwania czystym azotem, używanym również do przepłukiwania komory mikroskopu.







5.3.6.

System kompensacji lokalnych pól elektromagnetycznych:







5.3.6.1.

Musi być dostarczony i zainstalowany system do kompensacji pól elektromagnetycznych.







5.3.7.

Miernik monitorujący prąd wiązki:







5.3.7.1.

System musi zawierać cyfrowy miernik prądu wiązki (pikoamperomierz).







5.3.8.

Uchwyty na próbki: standardowy (wielopinowy oraz jednopinowy), na 51mm, 76mm, 100mm, 150mm i inne wraz z narządziami:







5.3.8.1.

Podstawowy zestaw narzędzi do preparatyki oraz do obsługi - 4 pęsety, 2 taśmy przewodzące, naklejki węglowe 200 sztuk, klej na bazie srebra 2 sztuki,







5.3.8.2.

Stoliki umożliwiające zamontowanie próbek na uchwytach – wielopinowy (uchwyt umożliwiający zamontowanie na nim co najmniej 6 małych stolików) sztuk 1, jednopinowy (uchwyt umożliwiający zamontowanie na nim próbki o rozmiarach co najmniej 20 x 20 mm ) sztuk 1,







5.3.8.3.

Stoliki umożliwiające zamontowanie płytek o rozmiarach 51mm, 76mm, 100mm i 150mm,







5.3.8.4.

Standardowy zestaw małych stolików (200 mniejszych stolików),







5.3.8.5.

Imadełko do trzymania próbek nieregularnych,







5.3.8.6.

Stolik pochylony pod kątem 45°,







5.3.8.7.

Stolik umożliwiający przenoszenie próbek przez śluzę







5.3.9.

System do czyszczenia komory mikroskopu (ang. plasma cleaner):







5.3.9.1.

Fabrycznie nowy i gotowy do użycia dekontaminator (osobny kontroler, źródło plazmy, niezbędne przewody łączące, kabel zasilający) musi zapewnić efektywne usuwanie, przy wykorzystaniu plazmy tlenowej, związków organicznych zanieczyszczających próżniowe komory mikroskopu.







5.3.9.2.

System przeznaczony do dekontaminacji musi być w pełni zintegrowany sprzętowo, programowo i być konstrukcyjnie kompatybilny ze skaningowym mikroskopem elektronowym.







5.3.9.3.

Powinna być zapewniona kontrola parametrów plazmy tlenowej (ciśnienie, moc RF, czas) zdalnie przez komputer lub manualnie na panelu przednim kontrolera (zasilacza).







5.3.9.4.

System ten powinien być zaopatrzony w butlę z tlenem (odpowiedni reduktor na butlę) oraz szczelną instalację gazową pozwalającą na bezpieczną pracę ze sprężonym tlenem.







5.3.9.5.

Moc RF nie może przekraczać wartości bezpiecznej dla materiału okien detektorów zainstalowanych w systemie HR-FE-SEM.







5.3.10.

Kable elektryczne, światłowodowe i inne przewody







5.3.10.1.

Mikroskop musi zawierać zestaw wszystkich potrzebnych przewodów do połączeń, o długościach wystarczających do podłączenia mikroskopu, systemu chłodzenia i UPS.







5.3.11.

Zasilacz awaryjny UPS:







5.3.11.1.

Automatyczny system zabezpieczeń mikroskopu na wypadek awarii zasilania, spadku napięcia, w postaci UPS’a z filtrami zapewniającego podtrzymanie zasilania układu do 10 min, kompatybilny z systemem zasilania awaryjnego budynku - tzn. zasilanie z generatora.







5.3.12.

Zamknięty układ chłodzenia wodnego (ang. chiller) - przewody i osprzęt - reduktory, filtry, zawory:







5.3.12.1.

Układ chłodzenia wodnego:

  1. zamknięty układ chłodzenia,

  2. zdalnie kontrolowany przez mikroskop,

  3. woda chłodzona jest powietrzem.







5.3.12.2.

Chłodzenie wodne musi swoją wydajnością zapewnić stabilną pracę całego systemu mikroskopu.







5.3.13.

2 stoły, 2 krzesła, szafa oraz inne wymagania:







5.3.13.1.

Muszą być dostarczone minimum dwa stoły oraz dwa krzesła do pomieszczenia, w którym zainstalowany będzie mikroskop, nie powodujące zakłóceń magnetycznych i wibracji.







5.3.13.2.

Musi być dostarczona szafka do przechowywania części i instrukcji obsługi, nie powodująca zakłóceń magnetycznych i wibracji.







5.3.14.

Inne wymagania:







5.3.14.1.

Jednostka sterująca (komputer) z systemem wyświetlania obrazu na dwóch płaskich kolorowych monitorach LCD minimum 24” z właściwym oprogramowaniem, wyposażona w system tworzenia raportów, obróbki i prezentacji danych wraz z akcesoriami niezbędnymi do pracy zapewniający ergonomiczną, płynną i bezproblemową pracę Urządzenia.







5.3.14.2.

Urządzenie musi być dostarczone w stanie gotowym do pracy, bez konieczności kupna dodatkowych przystawek, licencji, urządzeń niezbędnych do jego prawidłowego funkcjonowania.







5.3.14.3.

Bezpłatna likwidacja zauważonych błędów (wad) w dostarczonym oprogramowaniu (do obsługi całego systemu) w ciągu gwarancji.







5.3.14.4.

Wykonawca zapewnia w ramach wykonania Umowy wszystkie niezbędne do utrzymania w ruchu Urządzenia materiały eksploatacyjne w okresie gwarancji bez dodatkowego wynagrodzenia (smary, oleje, uszczelki, filtry wody, czynniki chłodzące, etc).







5.3.14.5.

Musi być dostarczone urządzenie cyfrowe do monitorowania i rejestracji parametrów środowiskowych: temperatura, wilgotność.







5.3.14.6.

Infrastruktura informatyczna pomieszczenia Urządzenia (kable, routery, przejściówki, oprogramowanie itp.), wymagana do eksploatacji Urządzenia jako systemu wykorzystującego co najmniej 2 komputery.







5.3.15.

Urządzenie i jego konfiguracja musi umożliwić doposażenie i rozbudowę Urządzenia o co najmniej:







5.3.15.1.

Dodatkową metodę pomiaru EBIC.







5.4.

Nietypowe parametry urządzenia i/lub jego wyposażenia istotne ze względu na sposób użytkowania, czy instalację. Wymagania co do wymiarów i wagi urządzenia.







5.4.1.

Wymiary poszczególnych elementów Urządzenia muszą umożliwiać ich transport wewnątrz budynku do miejsca instalacji Urządzenia przez drzwi o wymiarach otworu: szerokość 180cm i wysokość 205cm, chyba że, Wykonawca uzyska pisemną akceptację Zamawiającego na niespełnienie tego warunku. W przypadku, gdy Wykonawca zaoferuje urządzenia o parametrach wymagających przy dostawie i instalacji zapewnienia szerokości otworu drzwi większej niż podana w dokumentacji projektowej, Zamawiający dopuszcza wyrażenie zgody na zmianę parametru szerokości drzwi. Zmiana wymagać będzie uzyskania pisemnej zgody projektanta na zmianę dokumentacji projektowej w tym zakresie. Wykonawca winien zwrócić się z odpowiednim wnioskiem do Zamawiającego w terminie umożliwiającym wprowadzenie odpowiednich zmian do dokumentacji projektowej, w tym gwarantującym wykonywanie robót budowlanych uwzględniających zmianę zgodnie Harmonogramem rzeczowo – finansowym.







5.4.2.

Maksymalna wysokość zmontowanego Urządzenia ze względu na wysokość pomieszczenia – 390 cm.







5.4.3.

Wymiary zmontowanego Urządzenia wraz z jego strefą serwisową muszą mieścić się wewnątrz wyznaczonych linii ograniczających powierzchnię posadowienia Urządzenia zaznaczonych na planie rozmieszczenia urządzeń, chyba że Wykonawca uzyska pisemną akceptację Zamawiającego na niespełnienie tego warunku.







5.4.4.

Maksymalna waga Urządzenia musi uwzględniać przyjęte maksymalne obciążenie użytkowe wynoszące 5 kN/m 2.







5.5.

Zdefiniowanie i opis wymaganych technologii, z jakimi ma być dostarczone urządzenie.







5.5.1.

Musi być dostarczona technologia centrowania Urządzenia, technologia wykonania zdjęć działem elektronowym, technologia tworzenie obrazów 3D na podstawie wykonanych zdjęć.






1   2   3   4   5   6   7   8   9   ...   18


©snauka.pl 2016
wyślij wiadomość