Strona główna

Wzory formularzy


Pobieranie 2.11 Mb.
Strona7/18
Data19.06.2016
Rozmiar2.11 Mb.
1   2   3   4   5   6   7   8   9   10   ...   18

* wstawić odpowiednią wartość TAK lub NIE.

..............................., ............... 2013 r. .......................................................................

miejscowość, data podpis i pieczątka Wykonawcy

Wzór nr 3f

Znak postępowania: CEZAMAT/ZP01/2013

(pieczęć Wykonawcy)



CEZAMAT PW Sp. z o.o.

ul. Polna 50

00-644 Warszawa

OPIS URZĄDZEŃ APARATURY NAUKOWO – BADAWCZEJ

OFEROWANYCH PRZEZ WYKONAWCĘ

Budowa Laboratorium Centralnego wraz z dostawą elementów wyposażenia, a także dostawą, instalacją i uruchomieniem aparatury naukowo - badawczej w ramach prawa opcji.

Lp.

Nazwa urządzenia

Parametry wymagane

Potwierdzenie posiadania parametru

(TAK* / NIE*)

Oferowana wartość parametru


6.

Transmisyjny mikroskop elektronowy z emisją polową (STEM/TEM/EDS) o rozdzielczości atomowej

6.1.

Główne zastosowania.







6.1.1.

Elektronowy Mikroskop Transmisyjny TEM/STEM umożliwiający zastosowanie następujących technik badawczych : HRTEM, CTEM, CBED , SAD- dyfrakcja z zastosowaniem nanowiązki, STEM-HAADF/ABF/BF, EDS, mikroskopia Lorentzowska.







6.2.

Przedmiot zamówienia wraz z wszystkimi opcjami i elementami wyposażenia dodatkowego, w jakie powinno być wyposażone urządzenie. Części składowe urządzenia/systemu (jeśli możliwe jest ich wyodrębnienie). Spis części i materiałów eksploatacyjnych, z którymi ma być dostarczone urządzenie.







6.2.1.

Kolumna mikroskopu wraz z osprzętem, układami hydraulicznym, pneumatycznymi i elektroniką wraz z zasilaczami







6.2.2.

Aktywny układ kompensacji zewnętrznego pola magnetycznego







6.2.3.

Układ redukcji drgań







6.2.4.

Układ próżniowy wraz z pompami







6.2.5.

Oprogramowanie







6.2.6.

Kable elektryczne, światłowodowe i inne przewody,







6.2.7.

Zasilacz awaryjny UPS,







6.2.8.

Zamknięty układ chłodzenia wodnego (ang. chiller) - (przewody i osprzęt - reduktory, filtry, zawory),







6.2.9.

Komputer wspomagający







6.2.10.

Urządzenia pomocnicze niezbędne do uruchomienia i eksploatacji mikroskopu oraz przechowywania osprzętu i narzędzi serwisowych ( narzędzia, mikroskop stereoskopowy, kompresor, butle z gazem, reduktory, szafy, etc.)







6.2.11.

Zasilacz wysokiego napięcia.







6.2.12.

Komplet części obejmujący demontowane części uchwytów próbek po jednym komplecie do każdego uchwytu.







6.2.13.

Komplet materiałów eksploatacyjnych obejmujący filtry wody do układu chłodzenia na wszystkie wymiany czynnika chłodzącego w okresie gwarancji.







6.3.

Minimalne akceptowane parametry techniczne (zarówno samego urządzenia, jaki elementów wyposażenie dodatkowego), jakie powinnospełniać zamawiane urządzenie.







6.3.1.

Kolumna mikroskopu wraz z osprzętem







6.3.1.1.

Mikroskop musi być wyposażony w działo elektronowe z emisją polową o rozmyciu energetycznym nie większym niż 0.8 eV dla 200kV.







6.3.1.2.

Jasność źródła elektronów ≥ 4x108 A/cm2 srad dla 200 kV.







6.3.1.3.

Skupienie wiązki elektronowej do minimalnej średnicy nie większej niż 0.2 nm i prądzie nie mniejszym niż 500pA dla 200kV.







6.3.1.4.

Napięcie przyspieszające regulowane w zakresie Vmin do Vmax – V_min nie wyższe niż 80 kV, V_max nie niższe niż 200 kV.







6.3.1.5.

Justowanie fabrycznie dla wszystkich trybów pracy dla napięcia V_max, V_min i 200kV (jeśli V_max>200 kV).







6.3.1.6.

Mikroskop powinien być wyposażony w korektor aberracji sferycznej dla układu formowania wiązki (ang. probe Cs corrector).







6.3.1.7.

Limit informacyjny dla 200kV nie gorszy niż 110pm.







6.3.1.8.

Rozdzielczość punktowa w Trybie HRTEM dla 200kV nie gorsza niż 240pm.







6.3.1.9.

Rozdzielczość w trybie STEM nie gorsza niż 82pm dla 200kV, rozdzielenie bi-kolumn atomowych germanu w projekcji <112> .







6.3.1.10.

System skanowania STEM: próbkowanie w zakresie od 512x512 do co najmniej 2048x2048, (dopuszcza się rozszerzony zakres wielkości skanowanych obrazów), wybór azymutalnego kierunku skanowania próbki.







6.3.1.11.

Detektory w trybie STEM : jasnego pola, HAADF, pierścieniowy do techniki ABF czyli co najmniej 3 detektory, w tym co najmniej dwa pracujące równolegle.







6.3.1.12.

Jednoczesne zbieranie sygnałów, z co najmniej dwóch detektorów STEM + EDS.







6.3.1.13.

Możliwość automatycznej rejestracji serii obrazów dyfrakcyjnych w trybie STEM.







6.3.1.14.

Mikroskop pracujący w trybie STEM powinien umożliwiać uzyskiwanie obrazów przy powiększeniu minimalnym nie większym niż 150x oraz powiększeniu maksymalnym nie mniejszym niż 150 000 000x.







6.3.1.15.

Mikroskop HRTEM powinien być wyposażony w zmotoryzowane przysłony kondensora, obiektywu i selekcyjną - sterowane (zmieniane i centrowane) komputerowo z głównego interfejsu graficznego użytkownika.







6.3.1.16.

Mikroskopia Lorentzowska z rozdzielczością ≤ 5 nm przy 200 kV.







6.3.1.17.

System przesuwu i obrotu preparatu: komputerowe sterowanie mechanizmu o pięciu stopniach swobody x, y, z, α, β, minimalny zakres nachyleń co najmniej α ± 20°, β ± 20° dla próbki o średnicy Ø3 mm, zakres przesuwu co najmniej: x, y ± 1 mm, z ± 0.100 mm.







6.3.1.18.

Powinna istnieć możliwość zapisu położeń (X, Y, Z, α, β) i samoczynnego powrotu do zapamiętanych współrzędnych.







6.3.1.19.

Uchwyty preparatów (ang. holders) dla próbek o średnicy Ø3 mm mocowane trwale lub blokowane za pomocą gwintowanego elementu.

  1. jedno pochyłowy dedykowany przez producenta mikroskopu

  2. berylowy, dwu pochyłowy dla mikroanalizy EDS: zakres pochyłu co najmniej α ±20°, β ± 20°.







6.3.1.20.

Komora preparatu powinna być wyposażona w efektywny układ antykontaminacyjny ze zbiornikiem ciekłego azotu.







6.3.1.21.

Mikroanaliza EDS







6.3.1.21.1.

Detektor typu SSD







6.3.1.21.2.

Rozdzielczość energetyczna lepsza niż 136 kev dla Mn-Kα przy 10 kcps







6.3.1.21.3.

Kąt bryłowy zbierania wiązki ≥ 0,58 srad







6.3.1.21.4.

Sumaryczna aktywna powierzchnia detektora lub detektorów > 95 mm2/detektor







6.3.1.21.5.

Zakres wykrywanych pierwiastków: od boru (B) do uranu (U)







6.3.1.21.6.

Oprogramowanie analityczne ma zawierać kompletny pakiet aplikacji do jakościowej i ilościowej analizy spektralnej, łącznie z akwizycją spektralnych map rentgenowskich i profili liniowych oraz funkcję automatycznej korekcji dryftu obrazu przy długich czasach akwizycjach danych







6.3.1.22.

Kamera wysokiej rozdzielczości do rejestracji obrazów HRTEM zamontowana centralnie w osi mikroskopu o powierzchni matrycy prostopadłej do tej osi







6.3.1.22.1.

2048x2048 pikseli z możliwością łączenia 2x, 4x, 8x i 16x, wielkość piksela co najmniej 14x14 μm







6.3.1.22.2.

Czas odczytu w pełnej rozdzielczości nie dłuższy niż 1 sekunda, 16 bitową skalą szarości piksela







6.3.1.22.3.

Chłodzenie elementem Peltiera







6.3.1.22.4.

Sprzężenie scyntylator/detektor z wykorzystaniem bloku światłowodów







6.3.1.22.5.

Dedykowane oprogramowanie







6.3.1.23.

Możliwość automatycznego zapamiętania własnych indywidualnych nastawień centrowania optycznego i przywołania tych ustawień.







6.3.1.24.

System cyfrowego sterowania mikroskopem powinien zawierać oprogramowanie kontroli dostępu z co najmniej trójpoziomową hierarchizacją.







6.3.1.25.

Komputery i monitory niezbędne do obsługi mikroskopu i programów akwizycji danych z kamer i detektorów , monitory co najmniej 20 cali o dużym kącie widzenia w pionie i poziomie >170⁰.







6.3.2

Aktywny układ kompensacji zewnętrznego pola magnetycznego







6.3.2.1.

Zainstalowany na etapie przygotowania pomieszczenia aktywny układ kompensacji pola magnetycznego AC i DC.







6.3.2.2.

Redukujący zewnętrzne pole magnetyczne AC w zakresie 50Hz i DC – oba do poziomu 50 nT.







6.3.3.

Układ redukcji drgań







6.3.3.1.

System mikroskopu powinien być wyposażony w system redukcji drgań odpowiedni do warunków środowiskowych umożliwiając uzyskanie wymaganych parametrów we wskazanym przez zamawiającego miejscu instalacji.







6.3.4.

Układ próżniowy wraz z pompami







6.3.4.1.

Układ próżniowy wraz z pompami musi być zgodny z wymaganiami mikroskopu HR TEM.







6.3.5.

Oprogramowanie







6.3.5.1.

Oprogramowanie do sterowania mikroskopem i akwizycją danych .







6.3.5.2.

Licencje offline -10 sztuk - pozwalające na przeglądanie i eksport danych ze wszystkich detektorów i kamer.







6.3.5.3.

Licencje offline - 2 sztuki - pozwalające na analizę danych, w tym ilościową analizę EDS.







6.3.5.4.

Oprogramowanie EDS do analizy ilościowej i tworzenia map (od producenta detektorów SSD).







6.3.5.5.

Oprogramowanie pozwalające na rekonstrukcje fazy i amplitudy z serii obrazów HRTEM – serie rozogniskowań i serie nachyleń.







6.3.5.6.

Rejestracja i obróbka serii obrazów nano dyfrakcji otrzymanych w trybie STEM – pomiary odkształceń.







6.3.5.7.

Pomiary odkształceń na obrazach HRTEM/STEM metodą fazy geometrycznej.







6.3.5.8.

Bezpłatna aktualizacja programów sterujących i do obróbki danych oraz innego oprogramowania firmowego w okresie gwarancji.







6.3.5.9.

Bezpłatna likwidacja zauważonych błędów (wad) w dostarczonym oprogramowaniu (do obsługi całego systemu) przez cały okres jego użytkowania.







6.3.5.10.

Możliwość pisania skryptów do automatycznego sterowania pracą mikroskopu.







6.3.5.11.

Oprogramowanie powinno pozwalać na definiowanie i przechowywanie w dedykowanej bazie danych procedur i parametrów wielu procedur (w wielu rożnych grupach dostępnych jedynie dla posiadających odpowiednie uprawnienia użytkowników), a także powinno posiadać wielopoziomowy mechanizm nadawania praw dostępu i uprawnień dla użytkowników.







6.3.6.

Kable elektryczne, światłowodowe i inne przewody







6.3.7.

Zasilacz awaryjny UPS







6.3.7.1.

Automatyczny system zabezpieczeń mikroskopu na wypadek awarii zasilania i/lub spadku napięcia, w postaci UPS’a z filtrami zapewniającego podtrzymanie zasilania układu do 10 min, kompatybilny z systemem zasilania awaryjnego budynku - tzn. zasilanie z generatora.







6.3.8.

Zamknięty układ chłodzenia wodnego (ang. chiller) - (przewody i osprzęt - reduktory, filtry, zawory)







6.3.8.1.

Poziom stabilizacji wahań temperatury i system tłumienia drgań wody i instalacji eliminujący całkowicie ich wpływ na stabilność pracy mikroskopu.







6.3.9.

Komputer wspomagający







6.3.9.1.

Dodatkowy komputer wspomagający typu PC z wyposażeniem zapewniający ergonomiczną, płynną i bezproblemową pracę Urządzenia przy korzystaniu z dedykowanego oprogramowania o minimalnych parametrach: monitor 30 cali z matrycą IPS lub PVA (lub odpowiednik) o rozdzielczości co najmniej 2560x1600 z możliwością kalibracji kolorów, nagrywarka Blue-ray lub równoważna, system operacyjny co najmniej 64bity.







6.3.10.

Urządzenia pomocnicze niezbędne do uruchomienia i eksploatacji mikroskopu oraz przechowywania osprzętu i narzędzi serwisowych







6.3.10.1.

Wykonawca zapewnia w ramach wykonania Umowy wszystkie niezbędne do utrzymania w ruchu Urządzenia materiały eksploatacyjne w okresie gwarancji bez dodatkowego wynagrodzenia (smary, oleje, uszczelki, membrany pomp, filtry wody, czynniki chłodzące, gaz SF6, etc).







6.3.10.2.

Mikroskop stereoskopowy (z regulowaną ogniskową – ang. zoom), oświetlenie LED: góra, dół, bezcieniowy, pełna korekcja aberracji chromatycznej, powiększenia w zakresie co najmniej 5-60x, zachowanie płaszczyzny ogniska przy zmianie powiększeń, mocowanie na wysięgniku lub pantografie.







6.3.10.3.

Zestaw czterech ssawek podłączalnych do centralnej instalacji próżni oraz innych specjalistycznych narzędzi niezbędnych do bezpiecznego umieszczenia preparatów w uchwycie.







6.3.10.4.

Naczynie kriogeniczne (ang. dewar) LN2 do przechowywania ciekłego azotu, pojemność 25 – 35 litrów.







6.3.10.5.

Pęsety specjalistyczne ( 4 szt.).







6.3.10.6.

Pudełka/pojemniki do przechowywania próbek HRTEM i TEM – 20 szt.







6.3.10.7.

2 stoły i ergonomiczne fotele dla 4 osób nie powodujące zakłóceń magnetycznych i wibracji.







6.3.10.8.

Szafy na osprzęt serwisowy.







6.3.10.9.

Drabiny i dźwig niezbędny do serwisowania mikroskopu.







6.3.10.10.

Infrastruktura informatyczna pomieszczenia mikroskopu (kable, routery, przejściówki, oprogramowanie itp.), wymagana do eksploatacji mikroskopu jako systemu wykorzystującego co najmniej 3 komputery pracujące na bazie nie routowanych IP. Jednocześnie musi zostać zapewnione bezpieczne połączenie sytemu mikroskopu z zewnętrzną siecią umożliwiając zdalną diagnostykę mikroskopu oraz dostęp do zasobów Internetu.







6.3.10.11.

Oprzyrządowanie do LN2 (atestowane okulary, lejki, pompki, przewody).







6.3.10.12.

Komplet przewodów hydraulicznych i elektrycznych niezbędnych w instalacji.







6.3.10.13.

Kompresor lub adaptacja / podłączenie do centralnego przewodu sprężonego powietrza.







6.3.10.14.

Butle z gazami do uruchomienia mikroskopu.







6.3.10.15.

SF6 – system wentylacji uzgodniony z Zamawiającym (możliwość wypuszczenia gazu SF6 z pomieszczenia mikroskopu do atmosfery poza budynkiem przewodem wentylacyjnym o średnicy 15 cm).







6.3.10.16.

Inne niezbędne materiały i preparaty testowe do uruchomienia i testów akceptacyjnych.







6.3.10.17.

Urządzenie cyfrowe do monitorowania i rejestracji parametrów środowiskowych : temperatura , wilgotność.







6.3.11.

Urządzenie i jego konfiguracja musi umożliwić doposażenie i rozbudowę Urządzenia o co najmniej:








6.3.11.1.

Dodatkowy uchwyt tomograficzny: zakres obrotów co najmniej α ± 60° i β ± 60° dla osiągania wysokiej rozdzielczości w trójwymiarowej rekonstrukcji techniką tomografii STEM i EDS wraz z oprogramowaniem online i offline







6.3.11.2.

Spektroskopię EELS i obrazowanie EFTEM







6.3.11.3.

Dodatkową kamerę do dyfrakcji o rozdzielczości co najmniej 2000x2000 pikseli, z soczewkowym sprzężeniem scyntylator-detektor, bez konieczności stosowania przesłony wiązki (z ang. beam stopper)







6.3.11.4.

Holografię elektronową (bipryzmat + oprogramowanie)







6.3.11.5.

Dwupochyłowy uchwyt typu cryo-transfer dla temperatur LN2 wraz z systemem cryo-transferu

Dodatkową kamerę do dyfrakcji o rozdzielczości co najmniej 4000x4000 pikseli, z soczewkowym sprzężeniem scyntylator-detektor, bez konieczności stosowania przesłony wiązki (z ang. beam stopper), wielkość piksela co najmniej 14x14 μm (zamiast kamery z pozycji 6.3.11.3.









6.4.

Nietypowe parametry urządzenia i/lub jego wyposażenia istotne ze względu na sposób użytkowania, czy instalację. Wymagania co do wymiarów i wagi urządzenia.







6.4.1.

Wymiary poszczególnych elementów Urządzenia muszą umożliwiać ich transport wewnątrz budynku do miejsca instalacji Urządzenia przez drzwi o wymiarach otworu: szerokość 180cm i wysokość 205cm, chyba że, Wykonawca uzyska pisemną akceptację Zamawiającego na niespełnienie tego warunku. W przypadku, gdy Wykonawca zaoferuje urządzenia o parametrach wymagających przy dostawie i instalacji zapewnienia szerokości otworu drzwi większej niż podana w dokumentacji projektowej, Zamawiający dopuszcza wyrażenie zgody na zmianę parametru szerokości drzwi. Zmiana wymagać będzie uzyskania pisemnej zgody projektanta na zmianę dokumentacji projektowej w tym zakresie. Wykonawca winien zwrócić się z odpowiednim wnioskiem do Zamawiającego w terminie umożliwiającym wprowadzenie odpowiednich zmian do dokumentacji projektowej, w tym gwarantującym wykonywanie robót budowlanych uwzględniających zmianę zgodnie Harmonogramem rzeczowo – finansowym.







6.4.2.

Maksymalna wysokość zmontowanego Urządzenia ze względu na wysokość pomieszczenia – 390 cm.







6.4.3.

Wymiary zmontowanego Urządzenia wraz z jego strefą serwisową muszą mieścić się wewnątrz wyznaczonych linii ograniczających powierzchnię posadowienia Urządzenia zaznaczonych na planie rozmieszczenia, chyba że Wykonawca uzyska pisemną akceptację Zamawiającego na niespełnienie tego warunku.







6.4.4.

Maksymalna waga Urządzenia musi uwzględniać przyjęte maksymalne obciążenie użytkowe wynoszące 5 kN/m 2.







6.5.

Zdefiniowanie i opis wymaganych technologii, z jakimi ma być dostarczone urządzenie.







6.5.1.

Musi być dostarczona technologia justowania Urządzenia we wszystkich trybach pracy , wzorcowania i kalibracji powiększeń we wszystkich trybach pracy i całego zakresu powiększeń.






1   2   3   4   5   6   7   8   9   10   ...   18


©snauka.pl 2016
wyślij wiadomość